Able Electropishing в США добавила сканирующего электронного микроскопа четвертого поколения (SEM) в свою линейку продуктов, чтобы предоставить клиентам доступ в производственную отрасль EV к внутренним аналитическим возможностям и тестированию.
SEM JCM-7000 Neoscopeä SEM оснащен платформой для применений от измерения и анализа поверхностных дефектов до элементного анализа. SEM предлагает увеличение детали до 100 000x с использованием источника WIM с высоким разрешением и комбинации вторичных и обратных детекторов (BSE) наряду с режимами высокого и низкого вакуума для анализа диапазона типов образцов и размеров.
JCM-7000 объединяет набор других внутренних аналитических инструментов, которые включают цифровой микроскоп и 3D-профиль поверхности, позволяющие производителям все более сложных деталей металла видеть влияние полировки металла на их части в полной детализации.
«Способность предоставлять внутренние аналитические тестирование и отчетность является большой выгодой для наших клиентов, исключая дополнительный этап необходимости заключать контракт с внешними лабораториями, а также предоставление понимания и проверки предоставляемых нами электрополировщими услуг»,-сказал президент Able Brian Glass.
Источник: способный электрополирование
